应用
用于生产和测量室中的标准化粗糙度测量。根据不同的应用，具有集成接口的纳米进给机构可以连接到 MS Windows PC 或平板电脑。通过 DIAVITE App Light 软件进行评估、存储和记录。
详细说明
- 粗糙度参数与 DIN ISO、JIS 和 ASME 标准一致
- 包括 SH 标准测头，带金刚石针尖 5 µm
- 校准多达 8 个测头
- 提供一系列可选的测头，可用于几乎所有的测量任务，并可提供客户特定的解决方案
- 带 VH 外部进给机构，用于导头型跟踪器
优势
- 根据 ISO 标准 4287（已取消）和新的 ISO 标准 21920-2:2021，可选择标准化参数评估
- 使用简单、直观，无需培训
- 从各个方向进行测量：水平方向、垂直方向和上空
- 可通过条形码扫描仪访问测量程序（可选）。测量任务的图像可存储在测量程序中。
- 将测量条件存储在测量程序中，并创建 pdf、csv 和 txt 格式的测试记录
供货范围
NANO 粗糙度测量仪，SH 标准探头及测试报告、校准用标准金属 Ra = 3.0 微米、包含 DIAVITE APP REGULAR 软件及操作指南的 U 盘、USB 连接线及充电线。不包括在交货范围内：PC、笔记本电脑或平板电脑。
品牌介绍 | DIAVITE |
制造商零件编号 | NANO/VH |
探针系统 | Runner 探头系统 |
表面粗糙度量程 | 20 微米, 350 微米 |
最小/最大扫描路径 | 0.48-16 毫米 |
Z 轴量程 | 450 微米 |
测量力 | 0,15 牛 |
表面粗糙度感应速度 | 0.25 毫米/秒, 0.5 毫米/秒, 1 毫米/秒 |
粗糙度参数 | Ra, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rk, Rp, Rpt, Rv, Rpk, Rvk, Rvt, RdL, Rsm, Rmax, R3z, MR1, MR2, Rpc, C1, C2, Rmr, C0, Cz, V0, Rdg, RL0, R, Ar, Rx, Pa, Pz, Pt, Pq, Pmr, Ppc |
阈波长度 | 0.08 毫米, 0.25 毫米, 0.8 毫米, 2.5 毫米 |
数据传输类型 | USB |
传感器尖端 | 5 微米 |
传感器尖端角 | 90 度 |
语言 | 德语, 英语, 法语, 意大利语, 西班牙语, 抛光 |
进给装置尺寸 | 148 x 40 x 47 毫米 |
海关关税编码 | 90318020 |
毛重 | 2,300 千克 |
上次查看
HOFE 侧壁，3,000x800 毫米，镀锌节段，适用于推入配合式系统
ATORN SVUC 镗杆，整体硬质合金，正向，右置，E 16 R SVUC R/L 11
DAkkS without sticker for micrometer head 0-25 mm
PFERD 层状砂纸打磨片 X-Lock，Ø115，粒度 80，锆刚玉
ATORN Easy Point 对准螺栓
材料架，承载 200 kg，宽 400 mm，带钢辊
ORION 夹紧螺钉，M 4.0 x 6 可转位刀片 11220
ORION 麻花钻 N HSS，经过蒸汽处理，DIN 338，2.9 mm x 61 mm x 33 mm，118°
HOFE 附加搁板 1,000x400 毫米，浅灰色，承载能力 145 千克
KEMMLER 钻头夹持器 VDI50，E1 型，直径 50 毫米